国家知识产权局信息数据显现，南昌硅基半导体科技有限公司获得一项名为“一种显现器老化测验设备及体系
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国家知识产权局信息数据显现，南昌硅基半导体科技有限公司获得一项名为“一种显现器老化测验设备及体系”的专利，授权公告号CN119959733B，请求日期为2025年2月。
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